大画幅 CCD 高分辨率相机二维、三维光束的密度分布光束分析仪LT665

LT665 电磁波数据分析胶卷

带 BeamGage 的 USB 3.0 大画幅硅 CCD 高分辨部将胶卷

描述：

LT665 胶卷准确地捕捉和数据分析 190nm - 1100nm 的散射。 它具有紧凑的设计、宽一个系统范围、无疑的准确性和 1" 文件格式，非常适合大电磁波的电磁波数据分析。

2752x2192 缩放分辨部将，4.4µm 缩放夹角

可调频总体和发生器电子摄影机

包括 BeamGage 标准或专业课程的软件

散射 190-1100nm

电磁波宽度 46μm - 9.9mm

接口 USB 3.0

传感器各种类型 硅 CCD

并行反射光 CW、脉冲

有效占地面积 12.5mm x 10.0mm

缩放 2752 x 2192

有效缩放夹角 4.54µm

一个系统范围 54 dB

全分辨部将帧部将 27 fps

订购信息

支持的的软件项目 P/N

BeamGage 专业课程版 BGP-USB3-LT665 SP90378

BeamGage 标准版 BGS-USB3-LT665 SP90377